SNE-ALPHA Tarama Elektron Mikroskopu

SNE Alpha masaüstü taramalı elektron mikroskobu (SEM), 5 nm çözünürlük ve x150.000'e kadar büyütme kapasitesiyle, sınıfının en yüksek görüntüleme performansını sunan ileri düzey bir cihazdır. Pre-center edilmiş tungsten filament kartuşlu elektron tabancası ve standart Sekonder Elektron (SEI) dedektörüne ek olarak opsiyonel Geri Saçılmış Elektron (BSE) dedektörüyle desteklenen sistem, 1 ila 30 kV arasında altı kademeli hızlandırma voltajı sunar. Kullanıcı dostu, yeni nesil Nano-Eye arayüzü sayesinde görüntüler önceki modellere kıyasla %60 daha hızlı elde edilirken, gelişmiş otomasyon özellikleri (Auto Start, Auto Focus ve Auto-Gun-Align) sayesinde işlem süreci büyük ölçüde kolaylaştırılmıştır. Geniş alanları tek karede birleştirme olanağı sunan görüntü birleştirme (image stitching) teknolojisi ve 3D render desteği, yüzey pürüzlülüğü analizlerinde üstün sonuçlar sağlar. 80 mm çapa ve 40 mm yüksekliğe kadar numune desteği bulunan sahne sistemi, X-Y ekseninde 40 mm hareket, 360° döndürme, 0-40 mm Z ekseni hareketi ve -45° ile +90° arasında tilt kabiliyeti ile esnek numune konumlandırması sağlar. Yüksek/düşük vakum modları ve rotary + turbo moleküler pompa sistemiyle vakum kontrolü maksimum seviyede gerçekleştirilir. 300 x 460 x 600 mm boyutlarında ve yalnızca 78 kg ağırlığında olan ana ünite, %40 oranında küçültülmüş kompakt tasarımıyla minimum alanda maksimum verimlilik sunar ve her ölçekteki laboratuvar ortamına kolayca entegre edilebilir.